Теоретические и прикладные аспекты проблемы шунтирования никель-кадмиевых аккумуляторов

Проанализированы механизмы шунтирования никель-кадмиевых аккумуляторов кадмием. Показано, что основной причиной, приводящей к короткому замыканию источника тока, является перенос активной массы отрицательного электрода в межэлектродное пространство. Полное нли частичное ее катодное восстановление приводит к потере сепаратором электроизоляционных свойств и, как следствие, к внутреннему замыканию электродов. В качестве эффективного способа защиты аккумуляторов от внутреннего короткого замыкания предложено нанесение на поверхность сформированных кадмиевых электродов никелевых барьерных покрытий толщиной 5–15 мкм. На основании экспериментальных данных предложен механизм их защитного действия.